扫描电镜技术在高分子表征研究中的应用

摘要：

扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM)是表征高分子材料微观结构及其组成信息重要的手段之一,具有操作简便、信号电子种类多样且对样品损伤较小等特点.本文系统阐述了 SEM的工作原理,通过与透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)进行比较,突出了其优势与特色.详细讨论了该技术的测试方法,包括样品制备、仪器参数设定、操作技巧与图像处理,并揭示了获得高质量SEM图像的关键技术.介绍了SEM不同的信号电子成像、SEM与其他仪器联用及SEM原位分析技术在高分子材料表征中的应用与进展.最后,对SEM的发展趋势进行了展望.

关键词：扫描电子显微镜、高分子材料、微观结构、组成信息、应用

所属期刊栏目：53

分类号：O643.36;Q964;TG146.21

资助基金：国家自然科学基金;浙江省自然科学基金重大项目

在线出版日期：2022-06-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共22页

页码：539-560