甲壳素类液晶高分子的研究V. 取代基个数及长度对羟乙基壳聚糖液晶性的综合影响

摘要：

采用碱壳聚糖的方法合成了一系列具有不同摩尔醚化度(DME)的新的液晶性壳聚糖衍生物羟乙基壳聚糖(HECS).用酸氧化蚀刻的方法，在扫描电子显微镜(SEM)下证实了其胆甾型的液晶织构.以甲酸为溶剂，研究了摩尔醚化度对羟乙基壳聚糖溶致液晶性的影响.结果表明，在该体系中，摩尔醚化度能综合取代基个数及长度两个结构因素的影响，当DME较低时(<～2.0)，这种影响关系类似于取代基个数(即取代度)的影响，当DME较高时(>～2.0)，则类似于取代基长度的影响.前者对液晶临界浓度的影响很小，而后者却有显著影响.此外还观察到当DME>～2.0时出现水溶性，HECS的水溶液也呈现典型的胆甾指纹状织构.

关键词：羟乙基壳聚糖、溶致液晶、摩尔醚化度、胆甾相、蚀刻、扫描电子显微术

分类号：O63(高分子化学（高聚物）)

资助基金：国家自然科学基金29974023;福建省自然科学基金Z9910006

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：172-176