室温下单电子晶体管3种临界尺寸的确定

摘要：

为使单电子晶体管达到实际应用的地步,开展室温条件下相关研究成为必然.从正统理论出发,推导、计算出室温条件下单电子晶体管能否正常工作的库仑岛临界尺寸:存储器件为6.5nm,逻辑器件为1.5nm；本文还推导和计算出单电子晶体管室温下发生能量量子化效应的临界尺寸:4.7nm,并对这3种临界尺寸进行了验证和分析.另外,通过比较分析本文还得出了室温条件下,所有逻辑器件均必须考虑能量量子化效应,所有存储器件应尽量考虑能量量子化效应的结论.分析结果表明,库仑岛临界尺寸的确定对单电子晶体管的实际应用具有重要意义.

关键词：单电子晶体管、正统理论、能量量子化、临界尺寸、室温

所属期刊栏目：35

分类号：TN321(半导体技术)

资助基金：国家自然科学基金资助项目61170083,61106084;教育部博士点资助项目20114307110001;国家部委资助项目

在线出版日期：2013-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：99-103