边界扫描测试信息压缩算法

摘要：

为了解决IEEE 1149.1边界扫描测试优化生成问题,提出了一种新型的测试矩阵压缩算法.该算法首先应用被测试电路板的结构信息构造有限制的短路故障模型,然后以有限制的短路故障模型为基础对测试矩阵进行压缩处理,尽可能剔除测试矩阵中的无效测试信息,从而达到测试优化生成的目的.理论分析及实验验证表明,该算法能够获得紧凑性指标相当优化的测试矩阵,实现较高的测试信息压缩率.

关键词：可测试性、边界扫描、测试生成、优化

所属期刊栏目：22

分类号：TN707;TN702(基本电子电路)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：101-105