微型磁瓦表面线缺陷视觉检测方法研究

摘要：

针对微型磁瓦图像对比度低、纹理背景复杂、亮度不均匀、缺陷区域小等特点,本文提出了一种微型磁瓦表面线缺陷视觉检测方法.首先,构造自适应静态掩膜,屏蔽微型磁瓦轮廓;其次,采用非线性各向异性扩散方程,抑制微型磁瓦表面纹理;进而,构造动态掩膜自下而上扫描磁瓦图像,提取线缺陷区域;最后,在开发的微型磁瓦视觉检测实验装置上,进行了大量的实验研究.实验结果表明,本文缺陷提取算法能够较准确提取出磁瓦表面图像的线缺陷,表面缺陷检测的准确率为94.6％.

关键词：微型磁瓦、掩膜、扩散方程、线缺陷

所属期刊栏目：30

分类号：TP391.41(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金;浙江省公益性技术应用研究计划;浙江省公益性技术应用研究计划;金华市科学技术研究计划重点项目

在线出版日期：2019-11-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：951-959