硅基光子交换芯片的路由控制与性能测试

摘要：

设计了电压输出范围分别是0～10 V和0～2 V、调节精度为10 mV的可扩展热控电路和电控电路,用于实现16×16光子集成芯片的工艺误差补偿和光开关切换.描述了由硅(Si)基马赫-曾德尔(MZI)光开关单元组成的16×16光子集成芯片控制过程,提出了基于光开关传输性能的改进环路路由算法,此算法适用于光开关性能劣化或局部出现故障的情形.搭建了运行有改进路由算法的光交换芯片测试系统,实验结果表明,芯片模块的插入损耗小于33 dB,串扰小于--10 dB,能够实现无误码传输要求.

关键词：光开关、路由算法、载流子吸收

所属期刊栏目：28

分类号：TN256(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金;国家自然科学基金;教育部长江学者奖励计划项目;创新团发展计划资助项目

在线出版日期：2017-11-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：933-940