基于掩模图像的磁环表面缺陷提取研究

摘要：

磁环表面缺陷图像具有对比度低、纹理背景复杂、缺陷种类多和亮度不均匀等特点,提出了一种基于掩模图像的磁环表面缺陷提取方法.首先,通过分析磁环表面图像中不同缺陷区域与正常区域的灰度差别,将磁环表面缺陷划分为两类,第1类为缺陷灰度值与正常区域差别大易分割,第2类为缺陷灰度值与正常区域灰度值差别小不易分割;其次,根据两类表面缺陷的成像特点以及与背景的关系,利用掩模技术分别设计了相应的缺陷提取方法;最后,在不同的光照、规格、缺陷类型及大小等方面,利用开发的样机进行了大量的在线实验.实验结果表明,本文缺陷提取算法稳定性好,鲁棒性强,能够准确、快速地提取出磁环表面图像各区域的缺陷,表面缺陷检测的准确率为95.3％.

关键词：掩模图像、表面缺陷、磁环、边缘检测

所属期刊栏目：28

分类号：TP391.41(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金;浙江省公益性技术应用研究计划;浙江省新型网络标准及应用技术重点实验室开放基金

在线出版日期：2017-08-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：732-741