基于L0平滑的超像素块最短测地距离的显著区域提取方法

摘要：

为了有效地检测出图像中的显著区域,提出了一种基于Lo平滑的超像素块最短测地距离的图像显著区域提取方法.首先对图像进行Lo平滑得到边缘锐化内部细节平滑的图像,进而用简单线性迭代聚类(SLIC)算法得到图像的超像素块;然后提取超像素块的颜色和空间特征,计算超像素块之间的最短测地距离,根据图像边界的连通性得到每个超像素块的初步显著值;最后通过显著区域聚焦等后处理优化操作,滤除图中的背景噪声,得到最终显著图.利用公开数据库与之前方法进行比较的结果显示,本文方法能够更好地加亮整个显著目标区域,去除背景干扰区域.通过ROC面积的比较,证明了本文提出方法的有效性.

关键词：L0平滑、简单线性迭代聚类(SLIC)算法、超像素、最短测地距离、显著区域聚焦

所属期刊栏目：28

分类号：TP391(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金;天津市应用基础与前沿技术研究计划

在线出版日期：2017-07-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：657-662