适用于快速三维形貌测量的二元结构光编码优化方法

摘要：

为避免多级灰度值编码所带来的非线性问题,并进一步提高测量速度和适应性,提出了一种二元阶梯相位编码方法.首先,利用传统N步相移法,投影若干幅正弦光栅条纹到待测物体表面,接着投影若干幅相移条纹对应的采用二值化编码的条纹;在通过四步相移法求得光栅条纹的包裹相位后,利用二值编码条纹解调后得到的阶梯相位,确定光栅条纹的周期级次;最终根据周期级次对包裹相位进行解包裹得到绝对相位,完成相位去包裹.利用二值化条纹进行阶梯相位编码的方法,克服了传统阶梯相位编码方法使用多级灰度值引起的非线性问题.实验结果表明,以单通道投影图像数目为标准,在同等条件下,与已有的同类方法相比,本文方法的测量速度提高了12.5％,且适应性强,能够有效地进行物体的三维形貌测量.

关键词：二元编码、结构光、阶梯相位、三维形貌测量

所属期刊栏目：28

分类号：O439(光学)

资助基金：国家科技支撑计划;江苏省高层次创新创业人才引进计划;姑苏创新创业领军人才专项;昆山市人才计划项目;昆山市机器人;智能装备科技专项资助项目

在线出版日期：2017-06-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：503-509