一种基于正交线偏振光的高精度方位测量方法

摘要：

为了解决传统基于正弦波磁光调制的方位测量方法存在小角度精确测量时信号微弱、处理难度大等问题,提出了一种基于正交线偏振光磁光调制的方位精确测量方法.首先简单阐述了传统方位测量原理,分析了小角度范围内测量时信号微弱的根本原因;其次提出了改进的方位测量方法,在阐述测量装置结构原理的基础上,建立了基于磁光调制后两束正交线偏振光的光强模型,通过分析发现两路调制后混合信号中交流信号的极值点信息均与方位角相关,且同一位置对应的极值点信息具有相位相反的特性,采用二者相减的方式增强了有用信号的幅值,提高了数据采集精度.仿真结果表明,通过各种情况下与传统方法中参与方位角计算的信号幅值对比,文中提出的方法能够明显增强信号幅值,利于提高数据采集精度和方位测量精度.

关键词：方位、高精度测量、正交线偏振光、磁光调制

所属期刊栏目：28

分类号：TH741(仪器、仪表)

资助基金：国家自然科学基金61505254

在线出版日期：2017-03-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：65-72