基于数字全息的双包层光纤参数测量

摘要：

为了准确、快速和无损测量光纤的折射率分布和几何尺寸,基于数字全息显微层析技术构建了光纤参数的测量系统,包括优化的光路系统和软件分析系统.以双包层光纤为实验样品,由CCD记录最优数字全息图,通过单幅最优全息图提取光纤相位差分布,由分层算法重建光纤折射率并对其进行误差分析,采用基于边缘检测的算法对重建折射率进行误差校正和几何尺寸的提取.实验结果表明,与S14折射率测量仪和显微拍摄的光纤断面测量结果对比,本文方法重建的双包层光纤折射率差值与S14的测量结果吻合,几何尺寸优于S14的测量结果.

关键词：数字全息、折射率测量、几何尺寸、特种光纤、分层算法

所属期刊栏目：27

分类号：O438.1(光学)

资助基金：国家自然科学基金;国家自然科学基金;上海市科技创新行动计划;上海市科委科研计划

在线出版日期：2016-07-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：519-527