光纤损耗对双环注入锁定光电振荡器相噪的影响

摘要：

考虑到光纤的延时损耗,对双环注入锁定光电振荡器(OEO)建立了理论解析模型;基于建立的模型,研究了光纤损耗对对其相位噪声的影响.通过实验验证了所建模型的正确性,并得出:如考虑光纤的损耗,振荡信号的相噪并非随着光纤长度的增加而降低,当光纤长度增加到一定程度时,光纤的损耗会影响到振荡信号的相噪,使得光电混合谐振腔的品质因子(Q)降低,最终相噪会随之呈现增加的趋势.本文研究成果能够在工程中得到广泛应用,可为获取最佳长度光纤延时线提供参考.

关键词：光电振荡器(OEO)、解析模型、谐振腔、品质因子(Q)

所属期刊栏目：26

分类号：TN252(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金;湖南省科技厅工业支撑重点;湖南省教育厅科技重点;衡阳市科技计划;衡阳市科技计划;国家级大学生创新创业训练计划项目;科技计划;科技计划;湖南工学院重点学科建设资助项目

在线出版日期：2016-03-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：2256-2260