一种实时CIS暗电流校正方法及系统实现

摘要：

为了减弱暗电流对互补型金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器(简称CIS)图像质量的影响,本文基于图像处理的方式提出了一种实时校正CMOS图像传感器暗电流的方法,并在一个最高帧频(50 f/s)的4晶体管像素结构CMOS图像传感器内集成了该方法的电路.测试结果表明,该方法获得了准确的暗电平,并且实时消除了75％以上暗电流引入的固定模式噪声(FPN,fixed pattern noise),大大改善了图像质量.

关键词：互补型金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器(CIS)、图像处理、暗电流校正、固定模式噪声(FPN)、暗电平校准

所属期刊栏目：24

分类号：TN492(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金61076024

在线出版日期：2013-07-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：21-27