背照式AlGaN/GaN基PIN日盲型紫外探测器的研制

摘要：

利用MOCVD方法在蓝宝石（0001）衬底上生长PIN型AlGaN/GaN外延材料,研制出背照式AlGaN基PIN日盲型紫外探测器,用紫外光谱测试系统和半导体参数测试仪分别测得了器件的光谱响应和I-V特性曲线。测试结果表明,器件的响应范围为260~280 nm,峰值响应出现在270 nm处,在2.5 V偏压下的最大响应度为0.055 A/W,对应的探测率为4.6×1011cm.Hz1/2.W-1;正向开启电压为1.6 V,反向击穿电压约为16 V,在-0.3 V偏压下的暗电流约为25 pA。

关键词：AlGaN、日盲、光谱响应率、紫外探测器

所属期刊栏目：22

分类号：TN364.2;TN312.4(半导体技术)

资助基金：国家自然科学基金;天津市基础研究重点资助项目

在线出版日期：2012-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：984-986