条形InP/InGaAsP-EAM的色散特性实验研究

摘要：

采用Agilent公司的81910A光子全参数测试仪,实验研究了不同组分比的条形InP/In1-xGaxAs1-yPy多量子阱电吸收调制器(MQW-EAM)的色度色散(CD)特性.研究结果表明,Ⅲ-Ⅴ半导体MQW-EAM的CD特性与材料密切相关,并估算了EAM的带宽.因此,对应用于高速光通信系统中的同类型半导体光子器件,所用材料必须尽可能一致,以保证其高速性能的一致性.

关键词：InP/InGaAsP、色度色散(CD)、群时延(GD)、电吸收调制器(EAM)、多量子阱(MQW)

所属期刊栏目：19

分类号：TN305(半导体技术)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划2002AA31230

在线出版日期：2008-06-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：434-438