生长停顿改善MOCVD生长InGaN/GaN多量子阱的特性
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3321/j.issn:1005-0086.2007.04.011

生长停顿改善MOCVD生长InGaN/GaN多量子阱的特性

引用
利用金属有机物化学气相淀积(MOCVD)生长了InGaN/GaN多量子阱(MQWs)结构,研究了生长停顿对InGaN/GaN MQWs特性的影响.结果表明,采用生长停顿,可以改善MQWs界面质量,提高MQWs的光致发光(PL)与电致发光(EL)强度;但生长停顿的时间过长,阱的厚度会变薄,界面质量变差,不仅In组分变低,富In的发光中心减少,而且会引入杂质,致使EL强度下降.

InGaN/GaN多量子阱(MQW)、光致发光(PL)、电致发光(EL)、X射线双晶衍射(DCXRD)、金属有机物化学气相淀积(MOCVD)

18

TN303;TN304(半导体技术)

国家自然科学基金60506012;北京市教委科研项目KZ200510005003;北京市属市管高等学校人才强教计划052002015200504

2007-07-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

422-424

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

光电子.激光

1005-0086

12-1182

18

2007,18(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn