基于双线阵CCD的EPC/CPC数字测量系统

摘要：

针对目前带钢跑偏对中(EPC/CPC)的测量问题,提出了一种精度高、稳定性好的高速带钢EPC/CPC检测方案.该方案采用由Chip LED阵列和柱面透镜构成的平行光投射系统来照明,并利用高性能的线阵CCD来提取带钢边缘,同时开发了基于89C51单片机和CPLD器件的测量电路.详细介绍了该检测方案和EPC/CPC测量系统的组成.实验结果表明:该测量系统响应速度快、稳定性好,可使带钢卷取的齐整度控制在±0.1 mm范围内.

关键词：跑偏/对中(EPC/CPC)、纠偏、平行光投射系统、Chip LED、CCD

所属期刊栏目：17

分类号：TN247(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2006-06-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：608-611