基于自适应噪声抵消的光电二极管阵列检测器

摘要：

由于普通光电二极管阵列检测器(PDAD)无法克服光源波动造成的影响,设计开发了一种采用自适应噪声抵消技术的PDAD.该检测器采用分光镜实现光的分束和合束,采用凹面光栅实现分光系统,PDA作为光电接收元件.在斩光器和后续电路的配合下,实现了在同一PDA上信号光光谱、参考光光谱和暗电流的分时测量.由于采用参考光的吸光度信号对样品光的吸光度信号进行自适应噪声抵消,可以有效降低光源光强波动的影响,使基线短期噪声降低1×10-5 AU,漂移降低为1×10-4 AU/h.

关键词：光电二极管阵列(PDA)、自适应噪声抵消、检测器

所属期刊栏目：17

分类号：TN364+.2(半导体技术)

在线出版日期：2006-06-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：573-577