LD内损耗测试新方法

摘要：

提出了一种新的测试LD内损耗方法,它通过对后腔面镀高反膜,并对前腔面镀不同反射率增透膜,然后根据外微分量子效率倒数1/ηe与1/ln[1/(RfRr)的线性关系(Rf和Rr分别为前后腔面反射率)求出内损耗值.这样可以消除常用的测试LD内损耗方法中因管座反射带来的误差,使误差降低达15%.

关键词：内损耗、外微分量子效率、光功率

所属期刊栏目：17

分类号：TN247(光电子技术、激光技术)

资助基金：科技部科研项目G200068302;北京市教委科研项目KM200310005009;北京市科委科研项目D0404003040221

在线出版日期：2006-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：455-457