发光二极管中负电容现象的实验研究
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3321/j.issn:1005-0086.2006.01.001

发光二极管中负电容现象的实验研究

引用
对各种发光二极管(LEDs)的负电容(NC)进行了研究.实验结果表明,所有的LEDs都展示了NC现象.电压调制发光(VMEL)实验确认,在发光有源区中注入载流子引起的强发光复合是产生NC现象的基本原因.测量还表明,不同的LEDs的NC随电压和频率的变化规律是类似的;测试频率越低,正向偏压越高,NC现象越明显.

发光二极管(LEDs)、正向交流(a.c.)特性、负电容(NC)、电压调制发光(VMEL)

17

TN312.8(半导体技术)

中国科学院资助项目60376027

2006-03-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

1-4

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

光电子.激光

1005-0086

12-1182

17

2006,17(1)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn