10.3321/j.issn:1005-0086.2005.12.020
大位移电子散斑干涉法
针对电子散斑干涉(ESPI)法处理大位移时的困难,提出了一种改进的ESPI法.将数字散斑相关法(DSCM)引入ESPI中,由DSCM计算引起散斑去相关的面内位移,将所得二维面内位移对失配散斑场进行校准,恢复干涉条纹.用对离面位移敏感的ESPI光路,结合相移方法求得对应离面位移的相位数据,和二维面内位移一起,构成物体三维位移.对周边固定、中心加载的有机玻璃试件进行了测量,结果表明能产生质量干涉条纹,证明该方法是合理、可行的.
电子散斑干涉(ESPI)、数字散斑相关法(DSCM)、位移测量、相移法
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O348(固体力学)
2006-03-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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