10.3321/j.issn:1005-0086.2005.11.021
多线阵CCD拼接检测宽幅PS版表面缺陷的研究
提出采用多线阵CCD拼接对宽幅PS版表面缺陷进行检测的方法.用多个线阵CCD对宽幅面PS版表面进行分段成像,利用同步驱动使多个CCD并行工作,通过PCI高速数据采集系统将图像送入计算机,再通过图像处理算法进行缺陷检测,检测幅面宽度为1.2 m,分辨率为0.1 mm,检测速度为10 m/min.
宽幅面PS版、多线阵CCD拼接、同步驱动、并行数据采集、在线检测
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TN247(光电子技术、激光技术)
2005-12-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
1350-1354