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10.3321/j.issn:1005-0086.2003.10.016

ESPI技术测量静态和准动态面内位移

引用
利用高速CCD摄像技术和电子散斑图干涉(ESPI)法,研究了薄板的静态和准动态面内位移测量技术.采用小光圈成像技术和图像灰度进行线性变换的图像处理技术,实现对散斑图像的低通滤波和高通增强处理,提高了散斑条纹的对比度和清晰度,为条纹图的定量处理提供了方便.

高速CCD摄像、电子散斑图干涉(ESPI)、动态面内位移测量、图像处理

14

O348(固体力学)

2003-12-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

1070-1073

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光电子.激光

1005-0086

12-1182

14

2003,14(10)

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