10.3321/j.issn:1005-0086.2003.10.016
ESPI技术测量静态和准动态面内位移
利用高速CCD摄像技术和电子散斑图干涉(ESPI)法,研究了薄板的静态和准动态面内位移测量技术.采用小光圈成像技术和图像灰度进行线性变换的图像处理技术,实现对散斑图像的低通滤波和高通增强处理,提高了散斑条纹的对比度和清晰度,为条纹图的定量处理提供了方便.
高速CCD摄像、电子散斑图干涉(ESPI)、动态面内位移测量、图像处理
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O348(固体力学)
2003-12-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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1070-1073