10.3321/j.issn:1005-0086.2000.02.007
有机薄膜发光二极管失效过程的动态观察和分析
本文报道了利用带有CCD摄像机的显微镜对由常用有机材料TPD和Alq3制备的有机薄膜发光二极管(OLED)ITO/TPD/Alq3/Al及ITO/TPD/Alq3:Rub/Alq3/Al失效过程的动态观察,对于造成器件失效的主要原因--黑斑的产生和变化进行了描述和分析.观察同时表明掺杂器件ITO/TPD/Alq3:Rub/Alq3/Al的失效较之双层器件ITO/TPD/Alq3/Al要缓慢,前者的稳定性要比后者好.
有机发光二极管(OLED)、失效、黑斑、动态观察
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TN312+.8(半导体技术)
国家科技攻关项目863-307-05-0502;中国科学院资助项目69637010
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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