10.3321/j.issn:1005-0086.1999.05.014
用Z扫描法测量a-Si/SiO2多量子阱材料非线性折射率
利用Z扫描法和波长为0.53μm、脉宽为10ns的调Q-Nd∶YAG激光器测量了a-Si/SiO2多量子阱材料的三阶非线性折射率.并对该材料光学非线性的产生机理作了探讨.
Z扫描、a-Si/SiO2多量子阱、光学非线性
10
TN24(光电子技术、激光技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
431-433
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10.3321/j.issn:1005-0086.1999.05.014
Z扫描、a-Si/SiO2多量子阱、光学非线性
10
TN24(光电子技术、激光技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
431-433
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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