测量噪声功率谱作为筛选光电耦合器件的方法研究(Ⅱ)

摘要：

在文献[1]中作者曾提出用测量光电耦合器件噪声功率谱的方法,筛选光电耦合器件.此方法是根据低频噪声(1/f)的幅值.但在实验中发现,由于1/f、g-r和爆裂噪声三者之间相关性较弱,在剔除掉1/f噪声值较大的器件后,g-r噪声和爆裂噪声较大的器件却可能未被剔除.本文提出在筛选过程中考虑把g-r噪声和爆裂噪声较大的器件排除的方法,使根据噪声功率谱筛选光电耦合器件的可靠性进一步提高.为对半导体器件要求高可靠性的应用场合,提供了一种更可靠的筛选方法.

关键词：光电耦合器、噪声谱测量、筛选

所属期刊栏目：10

分类号：TN2(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：236-239