三种检材的直接免疫荧光检查诊断口腔天疱疮

摘要：

目的　对口腔损害的黏膜组织、损害缘的分离上皮组织(不含基底细胞层)、损害面的脱落细胞涂片作直接免疫荧光(DIF)检查，以评估这3种检材对诊断天疱疮的可靠性。方法　收集28例口腔天疱疮，每一患者同时作上述3种取材的DIF检查。结果　28例黏膜组织及分离上皮组织标本的DIF检查全部阳性(IgG)，而28例脱落细胞涂片标本只有24例阳性(IgG)。结论　黏膜组织与分离上皮组织作DIF检查以诊断天疱疮，两者的可靠性相同，但后者取材明显比前者容易；脱落细胞涂片作DIF检查的可靠性差，不宜作诊断天疱疮的DIF底物。

关键词：口腔黏膜、分离上皮、直接免疫荧光、天疱疮

所属期刊栏目：22

分类号：R78(口腔科学)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：399-400