10.3969/j.issn.1673-9981.2014.03.006
AlN/蓝宝石模板上生长的 Al 0.6Ga0.4N薄膜结构与光学性能研究
采用MOCVD方法在 AlN/蓝宝石模板上生长高铝组分 Al0.6 Ga0.4 N 薄膜,并采用高分辨率XRD(HRXRD)及阴极荧光(CL)方法对其进行了表征.结果表明,AlGaN薄膜产生了相分离,其原因为厚膜中的应力弛豫及Al原子低的表面迁移率.
相分离、AlN/蓝宝石模板、Al0.6Ga0.4N
TN304.2(半导体技术)
广东省战略性新兴产业 LED专项项目编号2010A081001001,2011A081301003,2012A080301003,2012A080302002;广州市应用基础研究项目编号2013J4100014
2014-10-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
169-172