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10.13336/j.1003-6520.hve.2014.06.026

双断口结构对特高压SF6断路器电场分布的影响分析

引用
特高压断路器中常采用双断口或多断口串联,但串联结构在开断过程中会产生各断口间电位分布不均的情况,导致断口电场分布发生改变.为此,基于能量扰动法求得1 100 kV双断口SF6断路器灭弧断口等效电容及断口对地等效电容,确定并联电容值,进而得到双断口分压比.再采用有限元法仿真计算了断口的非对称3维电场,定量描述、对比分析了550 kV单断口灭弧系统与1 100 kV双断口灭弧系统触头沿面电场强度,得出了不同灭弧单元的电场变化规律,以及双断口结构对电场强度分布的影响.结果表明,采用双断口串联结构时,灭弧系统的断口间电压分配不均匀,且分压比随着开断距离的增大而减小;进而导致断口间电场强度以及开断故障电路时电弧重燃风险增大.因此有必要对双断口灭弧系统断口结构进行优化设计.

双断口串联、SF6断路器、3维电场、能量扰动法、并联电容、有限元法

40

TN9;TM5

国家自然科学基金51377106, 51337001.Project supported by National Natural Science Foundation of China 51377106,51337001

2014-08-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共7页

1795-1801

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