用红外光谱研究室温硫化硅橡胶电晕老化及寿命估计

摘要：

电晕是引起室温硫化硅橡胶(RTV)老化的重要因素之一,因此对RTV进行了电晕老化试验,并利用傅立叶变换红外光谱(FTIR)分析了RTV的电晕老化性能,比较了不同材料RTV的电晕老化性能,试验结果表明,纳米材料可以明显改善RTV的电晕老化性能.还分析了纳米材料提高RTV抗电晕性的机理,利用基于陷阱理论的聚合物电老化寿命公式及电晕老化前后材料的红外光谱变化评估了RTV的寿命,纳米材料能使RTV的电晕老化寿命提高到3～4.9倍.此方法可为定量评估有机绝缘材料寿命提供参考.

关键词：电晕、老化、傅立叶变换红外光谱、纳米材料、寿命、陷阱

所属期刊栏目：35

分类号：TM85(高电压技术)

资助基金：国家重点基础研究计划973计划2009CB724500. Project Supported by National Basic Research Program of China 973 Program2009CB724500

在线出版日期：2011-12-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：2652-2656