直流下SF_6中绝缘子的闪络特性

摘要：

直流气体绝缘金属封闭输电线路(GIL)在特殊环境下可替代部分架空输电线路或电缆,提高输电走廊选择的灵活性.严重影响GIL绝缘水平的关键因素之一是直流下沿支撑绝缘子表面的电荷积聚.为了研究该问题,建立了一个锥板电极系统来模拟GIL中同轴圆柱结构的电场分布,通过试验研究了直流下SF_6中绝缘子的材料和形状对其闪络特性的影响,并利用有限元分析软件对不同形状的绝缘子进行了电场计算.结果表明,直流GIL中绝缘子的表面电导率和充电时间常数均对其表面电荷积聚和沿面闪络有重要影响.同时还提出了基于锥板电极的直流GIL的绝缘子表面电导率选取原则和外形结构优化注意事项.

关键词：表面电荷积聚、表面电导率、闪络电压、表面粗糙度、电场分布、形状

所属期刊栏目：35

分类号：TM85(高电压技术)

资助基金：国家自然科学基金50877073.Project Supported by National Natural Science Foundation of China50877073

在线出版日期：2011-12-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1903-1907