10.3321/j.issn:0251-0790.2005.02.017
氢键桥联双核铜配合物磁耦合的密度泛函研究
在密度泛函理论的基础上, 应用对称性破损方法研究了氢键桥联双核铜模型配合物的磁耦合行为以及磁耦合常数随O-O距离的变化趋势. 计算结果表明, 反铁磁耦合作用来源于Cu原子的dx2-y2和氧原子的px或py磁轨道的部分重叠, 而H原子不参与磁耦合作用. 磁耦合常数J与O-O距离r之间存在指数关系, 而不是线性关系.
对称性破损方法、密度泛函理论、氢键桥联铜二聚体、磁-结构关联
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O641(物理化学(理论化学)、化学物理学)
国家自然科学基金20133020,20373033;山东省自然科学基金Y2002B02
2005-04-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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