全柱成像激光诱导荧光微阵列芯片检测器

摘要：

@@ 随着微分离技术的发展和微电子、微制造技术的进步,芯片分析仪器已成为当今一个重要的发展方向.传统的单通道、单点检测所存在的弊端是检测通量太小.而微芯片检测系统与传统检测器具有较大的差别,发展新型高灵敏度芯片检测技术一直是微分析技术能否实用化的关键.

关键词：全柱成像、激光诱导、荧光微阵列芯片、检测器

所属期刊栏目：25

分类号：O6(化学)

资助基金：国家自然科学基金20299030,20075004;国家高技术研究发展计划863计划2002AA2Z2042

在线出版日期：2005-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：68-69