LCD-ITO膜层导致ESD研究及改善
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1673-1255.2021.04.013

LCD-ITO膜层导致ESD研究及改善

引用
ESD是LCD生产过程中经常会遇到的问题,生产过程中的各个环节都有可能产生静电放电现象.文中结合LCD生产过程中遇到的实际情况,对静电产生的原因展开认真研究.通过理论分析和实验验证,当ITO膜层表面结晶存在很多尖峰的时候,由于微电产和电势差的原因,很容易出现静电放电现象、烧伤甚至烧断ITO走线.根据试验验证了靶材使用时间、温度和气氛工艺,结果发现,气氛工艺的调整是有效解决ESD问题的方法.通过气氛工艺的调整,LCD的ESD测试性能达到了目标要求,生产的ESD不良比例从18.9%下降到了0.002%以下,通过改善提高了产品品质,降低了生产成本,取得了很好的经济效益.

ESD;ITO烧伤;ITO表面形貌;气氛工艺

36

TN151(真空电子技术)

2021-10-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

51-54

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

光电技术应用

1673-1255

12-1444/TN

36

2021,36(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn