电子设备可靠性的加速试验

摘要：

简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程，以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划，并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选试验（HASS）的相关内容，详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明，给出了基本应用原则。最后就开展可靠性加速试验中专业人员协同工作以及数据库建立给出了一些建议。

关键词：可靠性加速试验、高加速寿命试验、高加速应力筛选试验

所属期刊栏目：26

分类号：TN206;TB114.3(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2012-04-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：81-85