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10.3969/j.issn.1673-1255.2011.04.014

多孔硅衬底上ZnS薄膜的PLD制备和表征

引用
在电化学阳极氧化法制备的多孔硅(porous silicon,PS)衬底上用脉冲激光沉积法(pulsed laser deposition,PLD)在250℃和350℃下生长ZnS薄膜。XRD图样显示,制备的ZnS薄膜沿β—ZnS(111)方向择优生长,较高的生长温度下,衍射峰强度较大。SEM结果表明,250℃生长的ZnS溥膜表面疏松、不平整,这是由于衬底PS的粗糙结构所致,而350℃生长温度下,尽管薄膜表面出现了一些明显尺寸的晶粒,但总体变得平整致密。室温下的此致发光(PL)谱表明,350℃样品中ZnS的自激活发光强度高于250℃样品,而PS的红光强度低于250℃样品且峰位红移。把ZnS的蓝绿光与PS的红光叠加,在可见光区450~700nm形成了一个较宽的光致发光谱带,ZnS/PS复合体系早现较强的白光发射。

脉冲激光沉积、光致发光、ZnS、多孔硅

26

O484.41(固体物理学)

山东省自然科学基金Y2002A09;滨州学院科研基金BZXYG1001

2012-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

53-55,68

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1673-1255

21-1495/TN

26

2011,26(4)

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