10.3969/j.issn.1673-1255.2011.04.003
基于CPLD+FLASH的多通道测试记录仪
设计了一种基于复杂可编程逻辑器件(complex programmable logic device,CPLD)控制、FLASH MEMORY(闪速大容量存储器)存储的新型存储测试系统。此系统的采样频率最大为1MHz,可灵活选择500kHz、250kHz的不同采样频率,并且系统具有内外触发的功能。实验结果表明,该系统能够准确有效地存储A/D数据的采集。
FLASH、存储测试、复杂可编程逻辑器件(CPLD)、高速采集
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TP274(自动化技术及设备)
山西省自然科学基金2009011023
2012-04-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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