纳米材料的几种扫描探针显微表征方法

摘要：

扫描探针显微镜(SPM)作为一种广泛应用的表面表征工具,不仅可以表征三维形貌,还能定量地研究表面的粗糙度、孔径大小和分布及颗粒尺寸,在许多学科均可发挥作用.以纳米材料为主要研究对象,综述了国外最新的几种扫描探针显微表征技术,包括扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)和近场扫描光学显微镜(SNOM)等方法, 展示了这几种技术在纳米材料的结构和性能方面的应用.

关键词：材料表征、扫描探针显微镜(SPM)、扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)、近场扫描光学显微镜(SNOM)

所属期刊栏目：24

分类号：O434.14(光学)

在线出版日期：2009-12-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：27-29,43