ICP-AES法测定硅铁材料中杂质元素

摘要：

用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定硅铁中Al、Ca,对试样溶解方法、元素干扰、分析谱线进行了试验研究,操作简单,效率高,回收率为91.6%-94%,RSD为1%-2%.

关键词：耦合等离子体、发射光谱、硅铁材料、杂质元素

所属期刊栏目：24

分类号：O657(分析化学)

在线出版日期：2011-05-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：58,62