试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法

摘要：

IC芯片商家及用户在使用IC芯片过程中需对IC芯片进行测试,以判断其好坏.开发通用集成电路测试仪是解决这一问题的一条有效途径.本文分析了江汉大学的一项科研成果"IC智能测试仪"的测试原理、系统结构及使用方法.

关键词：IC芯片、单片机、智能化、测试仪

所属期刊栏目：16

分类号：TP391.76(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：43-45