高频感应-红外吸收法测定碳化硅中的SiC含量
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1007-1865.2011.04.067

高频感应-红外吸收法测定碳化硅中的SiC含量

引用
文章采用碳化硅和基准碳酸钙混合配耐成不同含量的标准样品,对高频红外碳硫分析仪进行多点校正,通过测定碳化硅中的碳含量,换算得到碳化硅含量.该方法简便、快速,可适用于测定50%~90%范围的碳化硅含量.

碳化硅、红外吸收法、合成标准样品、线性校正

38

O65(分析化学)

2011-08-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共2页

138-139

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

广东化工

1007-1865

44-1238/TQ

38

2011,38(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn