10.3969/j.issn.1007-7162.2014.02.023
SrBi2Ta2O9/LaNiO3异质结薄膜的铁电、磁性能及漏电流研究
采用溶胶凝胶方法在Si(100)衬底上生长了SrBi2Ta2O9/LaNiO3(SBT/LNO)异质结薄膜,其中SrBi2Ta2O9薄膜呈高度(115)取向.测量了不同退火温度下异质结的电滞回线和漏电流密度,结果表明,700℃下退火的薄膜剩余极化值最高,漏电流最低,且表现出弱的室温铁磁行为.漏电流机理分析表明薄膜界面为欧姆接触.
钽酸锶铋、漏电流密度、铁电、铁磁
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O611(无机化学)
广东省自然科学基金资助项目10151009001000050
2014-08-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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117-120,138