基于自适应多点法的sCMOS实时非均匀性校正

摘要：

为改善sCMOS读出电路工艺偏差导致的非均匀性问题,本文提出了自适应多点非均匀性校正方法.算法首先以搜寻最小范数点、阈值比较的方式分别确定最优分段点的位置以及最佳分段数量,然后再根据这些分段信息在各区间段分别进行两点校正.通过该自适应方法可有效改善传统多点法中由于分段参数选择不当导致的校正性能下降.同时,为实现实时的非均匀性校正,文中根据自适应多点法的算法特点,提出了一种与之匹配的嵌入式数据串流校正方案,可在不影响现有相机采集结构以及采集速率的情况下实现非均匀性的校正.

关键词：非均匀性、多点法、自适应、实时处理

所属期刊栏目：48

分类号：TN36(半导体技术)

资助基金：国家自然科学基金;基础研究项目

在线出版日期：2021-06-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：83-90