10.3969/j.issn.1003-501X.2012.08.023
L3型二维平板光子晶体微腔品质因数优化
二维平板光子晶体微腔在垂直于平板方向上存在辐射损耗,使得微腔品质因数不够大,限制了其应用.结合光子晶体微腔损耗的傅里叶分析,采用调整腔模空间分布的方法,减少了波矢在辐射泄漏区域的分布,进而降低了腔损耗,实现了微腔品质因数的优化.针对L3型二维光晶体微腔的结构设计,对具体的L3型光子晶体微腔优化进行了数值仿真,仿真结果表明微腔品质因数得到了极大的提高,验证了光子晶体微腔品质因数优化方法的有效性.
光子晶体微腔、时域有限差分法、品质因数、傅里叶分析
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O472.3;TN929.11(半导体物理学)
2012-10-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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146-150