10.3969/j.issn.1003-501X.2008.09.011
改进的遗传算法在粒径测量中的应用
在光全散射法粒径测量中,基于改进的遗传算法反演颗粒系的粒径分布.在独立模式下,粒径反演为求解约束优化问题,将改进的遗传算法与模拟退火算法相结合,克服了罚函数遗传算法反演时罚系数难以确定以致极易产生不可行收敛解的不足.在非独立模式下,采用改进的遗传算法能够在3个波长下较准确地反演粒径分布.在光全散射法中采用改进的遗传算法反演粒径分布是可行的,反演结果稳定可靠,避免了基本遗传算法容易过早收敛而使反演结果陷入局部解的缺陷.
粒径测量、光全散射法、粒径分布、改进的遗传算法
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TH744(仪器、仪表)
2008-12-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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