LiBq4/ITO和LiBq4/CuPc/ITO表面的AFM与XPS分析

摘要：

用AFM对蓝色OLED的空穴传输层LiBq4/ITO和LiBq4/CuPc/ITO表面扫描.结果均呈岛状结构.LiBq4沉积在ITO上成膜较差,在CuPc上成膜较好.说明加入CuPc能有效改善LiBq4的成膜质量.XPS对样品表面In3d和Sn3d的电子状态分析也证实ITO表面沉积LiBq4膜存在裂缝,加入CuPc可抑制裂缝出现.分析指出,CuPc由于Cu(Ⅱ)离子半满的dx2-y2轨道在卟啉环平面内和氮强烈作用形成离域大π键,使LiBq4的沉积状态改善.

关键词：发光材料、蓝色OLED、缓冲层CuPc

所属期刊栏目：31

分类号：TN383(半导体技术)

资助基金：国家自然科学基金60276026;甘肃省自然科学基金ZS031-A25-012-G

在线出版日期：2005-03-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：124-126