10.3969/j.issn.1003-501X.2002.06.011
利用FPGA实现红外焦平面阵列实时非均匀性校正
实时非均匀性校正是红外成像的一项关键技术.根据红外焦平面阵列探测元光谱响应的特点和基于参照源的两点温标非均匀性校正理论,提出一种利用FPGA硬件实现红外焦平面阵列实时非均匀性两点校正的新方法.该方法动态范围大、处理速度快,适用于红外成像系统实时图像处理场合.仿真和实验结果证明是可行的.
红外焦平面阵列、现场可编程门阵列、非均匀性校正、红外成像系统
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TN215(光电子技术、激光技术)
湖北省武汉市科技局科研项目991002037G
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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