基于微波辐射探测技术的绝缘子污秽检测试验

摘要：

绝缘子的污闪严重影响电力系统的安全运行,及时检测绝缘子的污秽程度可有效预防事故的发生.介绍了研制的基于微波辐射探测技术的绝缘子污秽带电检测仪,以及利用该检测仪对高压带电运行绝缘子的现场检测结果,并将检测结果与相应的等值盐密和等值灰密测量结果进行对比.初步的试验研究结果表明,所研制的绝缘子污秽检测装置可以用于高压带电绝缘子的污秽程度检测.

关键词：绝缘子、污秽检测、微波辐射计、等值盐密、辐射亮温

所属期刊栏目：26

分类号：TM216;TM855(电工材料)

在线出版日期：2013-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：74-77