可测试性技术中的图论问题及其求解

摘要：

近20年来,为了解决结构日益复杂的电路测试问题,可测试性技术得到了迅速发展.在可测试性技术中,针对不同的测试对象,如何对可测试性设计方案以及测试策略进行优化,降低总体代价,是非常重要且亟待解决的问题.本文应用图论对可测试性技术中的两类典型优化问题进行了描述,并讨论了其最优解的求解过程.鉴于最优解的求解过程过于复杂,为便于工程应用,本文基于"贪婪"策略,分别构造了求解两类问题快速解法,并通过简单实例予以了验证.

关键词：可测试性、优化、图论、算法

所属期刊栏目：20

分类号：O157.5;TN70(代数、数论、组合理论)

在线出版日期：2003-11-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：31-35，124