基于遗传算法和自适应的平面线轮廓度误差评定方法

摘要：

为了解决在测量平面线轮廓度中由于存在被测轮廓与其测量基准间存在位置误差而影响评定精度的问题,提出了一种基于遗传算法和自适应的计算平面线轮廓度误差的新方法.该方法满足最小条件原理,它利用样条插值函数拟合理论轮廓,并在评定过程中能自动地实现被测轮廓与理论轮廓之间的适应性调整,从而能够分离并消除被测轮廓与其测量基准之间的位置误差对轮廓误差评定结果的影响,在遗传优化中获得全局最优解.实例计算验证了这一结果.这种算法简单明确,具有精度高、收敛速度快、易于计算机程序实现、易于推广应用等特点.

关键词：计量学、线轮廓度、遗传算法、误差

所属期刊栏目：11

分类号：TB92(计量学)

在线出版日期：2004-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：68-72